SJT 11210-1999 石英晶体元件参数的测量 第4部分 频率达30MHz石英晶体
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C42C0040E36A42C5995EEBB83B795037 |
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15 |
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日期: |
2009-6-12 |
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SJ,中华人民共和国电子行业标准,习 /T 11210一1999,idt IEC444一4: 1998,石 英晶体元件参数的测量,第 4部分:频率达30MHz,石英晶体元件负载谐振频率fL,和负 载谐振电阻RL的测量,方法及其他导出参数的计算,M eas ur em en to fq uartzc rystalu nitp arameters,Part 4: Method for the measurement of the load resonance,frequency几,load resonance resistance RLand the calculation,of other derived values of quartz crystal units, up to 30 MHz,1999一08一26发布1999一12一01实施,中华人民共和国信息产业部发布,目次,前言,EEC前言,1 范围,,,。,,,.. (1),z 测最电路,,,。,,,,,,,,,。,,,一(1),3 测量方法 (2),附录A(标准的附录)关于负载电容器的使用建议. (3),前言,本标 准 等 同采用EEC4 44一4:1988《石英晶体元件参数的测盘第4部分:频率达30MHa,石英晶休元件负载谐振频率fc和负载谐振电阻RL的测量方法及其他导出参数的计算。》,这样 , 使 我国石英晶体元件参数测量的电子行业标准与】EC石英晶体元件参数的测It标,准相一致,以适应此领域中国际技术交流和经济贸易往来迅速发展的需要,便于我国生产的,这类产品质量水平达到国际通用要求并在国际市场流通,本标 准 与 下述五项电子行业标准构成石英晶体元件参数测量的完整系列标准,Si/ Z9 15 4.1-8 7 用n型网络零相位法侧量石英晶体元件参数第一部分:用二型网,络零 相 位 法 测 量 石 英晶 体 元 件 谐 振 频率 和 谐 振 电 阻 基本方法,(id tI E C 44 4一 1 :1 98 6),SJ/ Z9 15 4.2- 8 7 用二型网络零相位法测量石英晶体元件参数第二部分:测量石英晶,体 元件 动 态 电 容 的 相位 偏 置 法 ( idt IE C4 44 一2 :1980),SE/ Z9 15 4.3一87 用二型网络零相位法测量石英晶体元件参数第三部分:利用有并电,容 Ca 补 偿 的 二 型 网络 相 位 法 测 量 频 率 达 20 0wh的石英晶体元件两,端 网络 参 数 的 基 本 方 法 (id tE E C 4}“ 一 3: 198 6),SEN T1 12 11-1 99.1, 石英晶体元件参数的测量第五部分:采用自动网络分析技术和误,差校 正 确 定 等 效 电 参数 的 方 法 ( idt IE C4 44 一5 一 199 5),ST/ 1' 11 2 12一1999 石英晶体元件参数的测量第六部分:激励电平相关性(DLD)的,测 量 ( idt IE C4 44 一 6一 1 995 ),本标 准 的附录A为标准的附录,本标 准 由 电子工业部标准化研究所归口,本 标 准 由国营北京晨星无线电器材厂负贵起草,本 标 准 主要起草人:章怡、宋佩任、邓鹤松、边一林,IEC 前言,1) IE C (国际电工委员会)是由各国家电工委员会(IEC国家委员会)组成的世界性标,准化组织。IEC的目的是促进电工电子领域中标准化问题的国际合作。为此目的,除其他活,动外,IEC发布国际标准。国际标准的制定由技术委员会承担,对所涉及内容关切的任何,IEC国家委员会均可参加国际标准的制定工作。与IEC有联系的任何国际、政府和非官方组,织也可以参加国际标准的制定。IEC与国际标准化组织(ISO)根据两组织间协商确定的条,件保持密切的合作关系,2) I E C 在技术问题上的正式决议或协议是由对这些问题特别关切的国家委员会参加的,技术委员会制定的,对所涉及的问题尽可能地代表了国际上的一致惫见,3) 这 些 决议或协议以标准、技术报告或导则的形式发布。以推荐的形式供国际上使用,并在此意义上,为各国家委员会认可,4) 为 了 促进国际上的统一。各IEC国家委员会有贵任使其国家和地区标准尽可能采用,IEC标准。IEC标准与相应国家或地区标准之间的任何差异均应在国家或地区标准中指明,国际 标 准 IEC4 44- 4 是由IEC第49频率控制和选择用压电与介电器件技术委员会制定,的,本 标 准 构成石英晶体元件参数的测量系列标准的第4部分,IEC 4 44 一1构成第一部分:用二型网络零相位法测量石英晶体元件谐振频率和谐振电,阻的基本方法(第二版,1986),IEC 4 44 一2构成第二部分:测量石英晶体元件动态电路的相位偏置法(第一版,1980),IEC 4 4 4 一3构成第三部分:利用有并电容q补偿的二型网络相位法测量频率达200MHz,的石英晶体元件两端网络参数的基本方法(第一版,1986)0,本 标 准 文本以下列文件为依据:,卜4i9.A(CaON)A156il 一 49A(MCO38) 01 '科 4-9A( C1O} )}1a79 8斗 49( CA O)lkl18m3 , 19 3A,表决 批 准 本标准的详细资料可在上表列出的表决报告中查阅,本标 准 引 用了下列IEC标准:,122 - 1( 1976):频率控制和选择用石英晶体元件第一部分:标准值和试验条件,包,括 修 改 1 (1 98 3) 0,122 - 2 (1983):频率控制和选择用石英晶体元件第二部分:频率控……
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